CRM No.: 301-01-002 20 nm SiO2
● 물질 – 나노입자 현탁액(Nanoparticle suspension) 형태의 이산화 규소 (SiO2)
● 사용 목적 – 나노입자 크기를 측정하는 장비의 신뢰성 평가 및 검증에 활용
● 인증 값
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측정 방법 (Measurement Method) |
인증값 (Certified Value) |
측정불확도 (k=2) (Measurement Uncertainty) |
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Dynamic Light Scattering |
19.5 nm |
2.4 nm |
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Transmission Electron Microscopy |
19.6 nm (면적 지름) 21.8 nm (Feret 지름) |
0.6 nm |
* 인증일로부터 1년간 유효
● 공급처 정보 – 한국표준과학연구원
